紅外氣體分析儀是基于氣體對(duì)紅外光吸收的郎伯--比爾吸收定律，采用國(guó)際上最新的NDIR技術(shù)，如電調(diào)制紅外光源、高靈敏度濾光傳感一體化紅外傳感器、高精度前置放大 電路、可拆卸式鍍膜氣室，局部恒溫控制技術(shù)等，實(shí)現(xiàn)不同濃度、不同氣體的高精度連續(xù)檢測(cè)。

 

　　原理：

　　紅外氣體分析儀，是利用紅外線進(jìn)行氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同．剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。

　　比爾定律：

　　紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無(wú)限薄的平面。強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：I=I。×e-KCL（比爾定律）

　　式中：I：被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度；

　　I0：紅外線通過介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度；

　　k：待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)；

　　C：待分析組分的氣體濃度；

　　L：氣室長(zhǎng)度（赦測(cè)氣體層的厚度）

　　對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線氣體分析儀，其測(cè)量組分已定，即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定；紅外光源已定，即紅外線通過介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度一定；氣室長(zhǎng)度L一定。從比爾定律可以看出：通過測(cè)量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。